| 儀器名稱： | 紫外光電子能譜（UPS） | 型號： | |
| 檢測項目： | 可以測試樣品功函數和價帶位置 | ||
| 應用范圍： | 可以獲得樣品價帶譜信息，對導體、半導體的能帶、帶隙等分析提供主要數據，分析樣品的價帶位置和功函數等。 | ||
| 制樣要求 | 1，樣品狀態：塊狀、薄膜樣品平面尺寸一般要求5*5mm，最大不超過8*8mm，可以為正方形或者長方形，厚度最好不要超過1mm，樣品要求具有一定導電性（表面電阻<10MQ）。不接受大尺寸樣品測試； 2，粉體樣品需要制備為薄膜，具體制備方法及要求如下：先把粉末樣品分散在水或乙醇里（濃度盡量低點），滴在硅片上烘干，可以多循環幾次，一定要保證膜表面盡量平整、均勻、連續、整潔，硅片尺寸5*5mm-5*8mm，厚度幾百um，涂完膜干燥后膜層以完全覆蓋住硅片即可（膜層厚度10-50mm即可），膜層的電阻最好小于10兆歐，最大不能超過30兆歐。 3，表面分布均勻、清潔無污染。 |
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解疑：010-8646-0567-8
投訴: 010-8249-1398
官網：http://www.geosavant.net
總部：北京市海淀區北清路103號1號樓
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